Ein Rasterkraftmikroskop (AFM) für die Forschung in der Materialchemie

Begründung des Auftraggebers

Das gewählte Material entspricht zum jetzigen und voraussehbaren Zeitpunkt am ehesten unseren finanziellen Mitteln und Bedürfnissen (Sicherung der Investitionen) unter Berücksichtigung der schnellen Entwicklung der Anforderungen in der Forschung.

Beschreibung

Das Institut für Chemieingenieurwesen (ISIC) der Eidgenössischen Technischen Hochschule Lausanne (EPFL) beabsichtigt, ein Rasterkraftmikroskop (AFM) für die Forschung in der Materialchemie zu erwerben. Das Gerät sollte in der Lage sein, hochauflösende Bilder zu erzeugen und eine hohe Empfindlichkeit für die Kraftspektroskopie aufzuweisen. Es soll Software und einen Controller für AFM, KPFM, C-AFM und kalibrierte nanomechanische Eigenschaften umfassen. Die Möglichkeit eines hochauflösenden STM wird als Pluspunkt angesehen. Dieses Gerät wird ein Einrichtungsgerät sein, das von Forschungsgruppen und wissenschaftlichem Personal gemeinsam genutzt wird. Robustheit sowie eine einfache Handhabung von Hardware und Software, Flexibilität in Bezug auf Experimente und Arbeitsabläufe, geringes Risiko von Beschädigungen und mindestens ein vollautomatischer Scan-Modus sind daher Voraussetzungen. Effiziente Arbeitsabläufe sind durch ein mechanisch stabiles, geräuscharmes Instrument ebenfalls erforderlich. Die Möglichkeit, kundenspezifische Experimente/Halterungen zu integrieren sowie die Möglichkeit, die Software und Hardware des Geräts mit benutzerdefinierten Routinen in gängigen Programmiersprachen zu verbinden, wird ebenfalls als Pluspunkt angesehen.