Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

Begründung des Auftraggebers

Die Zuschlagsempfängerin hat das vorteilhafteste Angebot eingegeben und die höchste Gesamtpunktzahl erreicht und ist somit die Gewinnerin dieser Ausschreibung.

Beschreibung

Das Institut für Baustoffe (IfB) schreibt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) aus. Das System wird für eine breite Palette von Probenanalysen eingesetzt, die von Mitarbeitern, Doktoranden und Postdocs in der Forschung und Lehre durchgeführt werden. Zu den typischen Anwendungen gehören die Bildgebung mittels SEM und die EDS-Analyse.
Details siehe Pflichtenheft.