FIB/SEM à plasma pour des applications à température ambiante et cryogéniques

Motifs de l’adjudication

Aufgrund der Eignungs- und Zuschlagskriterien der Spezifikation geht der Zuschlag an die Firma FEI Europe B.V. , da sie gemäss Evaluation das vorteilhafteste Angebot eingereicht hat. Beim Zuschlagskriterium Preis hat sie das tiefste Angebot eingereicht und zudem die technische Spezifikation vollständig erfüllt.

Description

Le nouveau microscope à balayage électronique/à faisceau ionique focalisé par plasma qui doit être proposé sera utilisé aussi bien pour des applications en conditions cryogéniques (cryo ; matériaux biologiques congelés et échantillons sensibles issus de la science des matériaux, tels que les matériaux de batterie) qu'en conditions de température ambiante (tous types de matériaux). Il doit donc être entièrement compatible aussi bien avec la température ambiante qu'avec les conditions cryogéniques. Ses principales applications seront la fabrication de lames pour TEM et de colonnes pour le synchrotron. L'analyse des matériaux (coupes SEM et FIB), la tomographie 3D par FIB et le prototypage constitueront d'autres domaines d'application importants. Un microscope optique à fluorescence et la spectroscopie à dispersion d'énergie par rayons X viendront compléter les capacités de l'appareil.