Appareils de mesure pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF
- N° de projet
- 21384
- Période
- –
- Procédure
- Procédure ouverte
| Lot | Intitulé | Adjudicataire | Montant |
|---|---|---|---|
| 1 | Active Load-Pull System21384-02 · · 1 offre reçue | Hi-Tech Electronic Components B.V. | 339 365 USD |
| 2 | Frequency Extenders – high power21384-03 · · 1 offre reçue | Hi-Tech Electronic Components B.V. | 487 890 USD |
| 3 | Frequency Extenders – low power21384-04 · · 2 offres reçues | Virginia Diodes, Inc. | 215 365 USD |
Motifs de l’adjudication
Das gewählte Material entspricht zum jetzigen und voraussehbaren Zeitpunkt am ehesten unseren finanziellen Mitteln und Bedürfnissen (Sicherung der Investitionen) unter Berücksichtigung der schnellen Entwicklung der Anforderungen in der Forschung.
Description
Lot 1
Un système de mesure load-pull actif en dessous du térahertz (sub-THz) pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF (voir cahier des charges).
Lot 2
Les extenseurs de fréquence seront utilisés pour caractériser des dispositifs RF dans la gamme de 75 à 260 GHz, avec des modules de forte puissance adaptés aux mesures load-pull (voir cahier des charges).
Lot 3
Les extenseurs à faible puissance couvrant la gamme de 220 à 330 GHz (et au-delà) seront connectés à un système Keysight PNA (voir cahier des charges).
| Adjudicateur | EPFL-Scientific Equipment |
|---|---|
| Canton | Vaud |
| Type de marché | Marché de fournitures |
| CPV | 38000000 Équipements de laboratoire, d’optique et de précision (excepté les lunettes) |
| Soumis aux accords internationaux | Oui |