Contract awarded
Messgeräte zur Charakterisierung von RF-Halbleiterdevices
- Project no.
- 21384
- Period
- –
- Procedure
- Open procedure
3Lots
2Companies
Lots3
| Lot | Title | Winner | Amount |
|---|---|---|---|
| 1 | Active Load-Pull System21384-02 · · 1 bid received | Hi-Tech Electronic Components B.V. | USD 339,365 |
| 2 | Frequency Extenders – high power21384-03 · · 1 bid received | Hi-Tech Electronic Components B.V. | USD 487,890 |
| 3 | Frequency Extenders – low power21384-04 · · 2 bids received | Virginia Diodes, Inc. | USD 215,365 |
Reasons given by the contracting authority
Das gewählte Material entspricht zum jetzigen und voraussehbaren Zeitpunkt am ehesten unseren finanziellen Mitteln und Bedürfnissen (Sicherung der Investitionen) unter Berücksichtigung der schnellen Entwicklung der Anforderungen in der Forschung.
Description
Lot 1
Ein aktives Load-Pull-Messsystem im Sub-THz- Bereich zur Charakterisierung von HF- halbleiterbauelementen (siehe Pflichtenheft).
Lot 2
Die Frequenzextender werden zur Charakterisierung von HF-Bauelementen im Bereich von 75–260 GHz verwendet, wobei Hochleistungsmodule für Load-Pull-Messungen eingesetzt werden (siehe Pflichtenheft).
Lot 3
Low-Power- Extender, die den Bereich von 220 GHz bis 330 GHz (und darüber hinaus) abdecken, an ein Keysight PNA angeschlossen werden (siehe Pflichtenheft).
Official publication: project 21384 on simap.ch. Only the version published there is authoritative.
Details
| Contracting authority | EPFL-Scientific Equipment |
|---|---|
| Canton | Vaud |
| Contract type | Supply contract |
| CPV | 38000000 Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses) |
| Covered by international treaties | Yes |